SJ 50033.125-1997 半导体分立器件PIN11～15型硅PIN二极管详细规范
|
ID： |
A3D590E4C1B64F73BFCE22BD31C9F92E |
|
文件大小(MB)： |
0.44 |
|
页数： |
9 |
|
文件格式： |
|
|
日期： |
2024-7-27 |
|
购买： |
文本摘录（文本识别可能有误，但文件阅览显示及打印正常，pdf文件可进行文字搜索定位）：
SJ,中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033/125-97,半导体分立器件PIN11.15型,硅PIN二极管详细规范,Semicondutor discrete device,Detail specification for silicon,PIN diodes for type PIN11 .15,1997*7发布1997-10-01 实施,中华人民共和国电子工业部批准,www. bzfxw. com 下载,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件PIN11.15型,硅PIN二极管详细规范 050033/125-97,Semicondutor discrete device,Detail specification for silicon,PIN diodes for type PIN11 .15,1范围,1.I 主题内容,本规范规定了 PIN”.15型硅PIN二极管（以下简称器件）的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用于器件的研制、生产和采购,1.3 分类,本规范根据器件质量保证等级进行分类,1.3.1 器件的等级,按GJB 33-85〈半导体分立器件总规范》第L 3条的规定,提供的质量保证等级为普军,级、特军级、超特军级,分别用字母GP、GT、GCT表示,2引用文件,GB 6570-86微波二极管测试方法,GJB 33-85半导体分立器件总规范,GJB 128-86半导体分立器件试验方法,GJB 1557-92半导体分立器件微波二极管外形尺寸,3要求,3.1 详细要求,各项要求应按GJB 33和本规范的规定,3.2 设计、结构和外形尺寸,器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB 33和本规范的规定,3.2.1 引出端材料和涂层,引出端材料为可伐。引出端表面层应为镀金层,3.2.2 器件结构,中华人民共和国电子工业部1997-06-17发布1997-10-01 实施,SJ 50033/125-97,高阻单晶双扩散台面PIN结构,3.2.3外形尺寸,外形尺寸应符合GJB 1557中W4-01的要求,见图1〇,浮,符貳,W4-01,MIN MAX,GD 4.12 4.28,肛2.90 3.10,3.40,SE 2.34 2.40,H 10.50 1L50,Hi 4.60 5.40,N 2.90 3.10,3.3 最大额定值和主要电特性,3.3.1 最大额定值,型号,Vrm,V,I FM,A,P,W,Top,C,TsTg,C,PIN11 200,1.0 1.0 -55-125 -65 .175,PIN12 400,PIN13 600,PIN14 800,PIN15 1000,3.3.2 主要电特性（7\ = 25じ）,2,SJ 50033/125-97,で值,型、,号\,匕BR),/R<10pA,V,ァF,/ = 10kHz,IF= 100mA,n,.,Vr = 50V,/=1MHz,pF,咋,3100mA,V,%,Ip — 10mA,Ir = 100 tn A,3,Z(th)t,IF = 500mA,脉宽!0ms,K/W,Cs,pF,Ls,nH,最小值,最大值,最小值ー,「 ー,最大值ー,最小值,最大值,一,最小值,最大值,最小值,最大值,典型值典型值典型值,PINU 200 一,一1.5 — 1.2 — 1.0 — 1.0 50 0.25 1.5,PIN12 400 —,PIN13 600 一,PIN14 800 —,PIN15 1000 —,3.4 电测试要求,电测试应符合GB 6570及本规范的规定,3.5 标志,3.5.I 标志应符合GJB 33和本规范的规定,在器件瓷管中部打印下列标志,a.器件型号;,b.产品保证等极;,c.检验批识别代码,4质量保证规定,4.!抽样和检验按GJB 33的规定,4.2 鉴定检験,鉴定检验按GJB 33的规定,4.3 筛选（仅对GT和GCT级）,筛选应按GJB 33表2和本规范的规定。其测试应按本规范表1的规定进行,超过本规范,表1极限值的器件应予剔除,筛选,(见 GJB 33 表 2),试验方法,GJB 128,测 试,2高温寿命1032 175じ 24h,3热冲击1051 除高温150じ、循环20次外,其余同试验条件C,4恒定加速度2006 196000m/J(20000g)x、y两个方向各 Imin,5密封1071 a.细检漏试验条件H漏率5X10-2pa,cm3/s,b,粗检漏试验条件C,6高温反偏,7中间测试,1038 150匕48h额定值Vrm的80%,在,8电老化,9最后测试,1038 85c /=50Hz ；FM = 50mA,Vrm = 80%V(br) 96h,ArF/rFC15%,其他参数:按本规范表1的A2和A4分组,3,SJ 50033/125-97,4.4 质量一致性检验,质量一致性检验应按GJB 33的规定,4.4.1 A组检验,A组检验应按GJB 33和本规范表1的规定进行,4.4.2 B组检验,B组检验应按GJB 33和本规范表2的规定进行,4.4.3 C组检验,C组检验应按GJB 33和本规范表3的规定进行,4.5 检验和试验方法,检验和试验方法应按本规范相应表的规定,4.5.1 对外观及机械检验,制造厂应以文件方式对检验项目、所需设备、失效标准加以规定,表1 A组检验,检验或试验,GB 6570,LTPD 符 号,极限值,单位,方 法条 件最小值最大值,A1分组,外观及机械检验,GJB 128,2071,条件见4.5」5,A2分组,总电容8.2 Vr = 50V,/……
……